光焱量子科技發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)

簡要描述：光焱量子科技發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)配光曲線量測系統(tǒng)，可測試 LED 與發(fā)光器件之配光曲線。

產(chǎn)品型號： DIST-Z

所屬分類：光焱量子效率測量系統(tǒng)

更新時間：2023-08-03

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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詳情介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池

DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)

ENLI DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng) 產(chǎn)品敘述

配光曲線量測系統(tǒng)，可測試 LED 與發(fā)光器件之配光曲線。

配光曲線為一個發(fā)光源在各方向之光強(qiáng)度分布的曲線或形狀，大部分 LED 光源，其發(fā)光角度和光強(qiáng)分布為 110 度至 120 度的郎伯分布，然而依據(jù)后端的應(yīng)用需求，如做為燈具使用，需要規(guī)劃照明的空間均勻度，如做為顯示器也需要不同的配光特性。
圖: 多信道光譜儀測試系統(tǒng)

ENLI DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng) 規(guī)格

型號	項目	規(guī)格
1	DIS-Z 配光曲線測試系統(tǒng)	- 測量波長范圍：350 - 1000 nm - 可客制化多種 EL 器件測試夾具 - 手動多點(diǎn)切換器 - 支持多種源表 (選配)
1-1	HS3011-ESP 高靈敏光譜偵測整合模塊	光譜儀 - 波長范圍: 350 - 1000 nm - 波長分辨率: 0.35 - 1 nm (依光柵與狹縫而定) 高靈敏感測探頭
1-2	三軸樣品臺	- 手動XYZ三軸調(diào)整 - 行程 ± 15 mm
1-3?	自動旋轉(zhuǎn)載臺	- 光強(qiáng)分布測量模塊 - 旋轉(zhuǎn)樣品臺 - 旋轉(zhuǎn)角度-80到+80度 - 軟件控制功能
1-4??	訂制化EL測試夾具	- 訂制化背探針夾具盒
1-5	測量軟件	- 配光曲線量測：不同角度之光強(qiáng)分布 - 相對輻射強(qiáng)度：w/m2 (需搭配HS3011-ESP) - 相對亮度學(xué)參數(shù)(需搭配HS3011-ESP) - 所有CIE相關(guān)參數(shù) (需搭配HS3011-ESP) - 適用于 Keithley 24XX /Agilent 29XX / Keithley 26XX系列源表
1-6?	量測暗箱	- 尺寸: 540 x 340 x 310 mm
1-7	高準(zhǔn)度對位雷射